|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of n-channel a-Si:H/nc-Si:H bilayer thin-film transistors under DC electrical stress |
| Auteur: |
Arpatzanis, N. Hatzopoulos, A.T. Tassis, D.H. Dimitriadis, C.A. Templier, F. Oudwan, M. Kamarinos, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |