Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Suppression of Ge–O and Ge–N bonding at Ge–HfO2 and Ge–TiO2 interfaces by deposition onto plasma-nitrided passivated Ge substrates: Integration issues Ge gate stacks into advanced devices
 
 
Titel: Suppression of Ge–O and Ge–N bonding at Ge–HfO2 and Ge–TiO2 interfaces by deposition onto plasma-nitrided passivated Ge substrates: Integration issues Ge gate stacks into advanced devices
Auteur: Lee, S.
Long, J.P.
Lucovsky, G.
Whitten, J.L.
Seo, H.
Lüning, J.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 48 (2008) nr. 3 pagina's 6 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland