|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of the pre-gate oxide cleaning temperature on the reliability of GOI and devices performances in deep submicron CMOS technology |
| Auteur: |
Chiang, Y.T. Fang, Y.K. Huang, Y.J. Chou, T.H. Yeh, S.Y. Lin, C.S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 11-12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |