Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
 
 
  Characterization of defects in flexible circuits with ultrasonic atomic force microscopy
 
 
Titel: Characterization of defects in flexible circuits with ultrasonic atomic force microscopy
Auteur: Nalladega, Vijayaraghava
Sathish, Shamachary
Brar, Amarjit S.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 48 (2008) nr. 10 pagina's 6 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland