|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental and numerical analysis of current flow homogeneity in low voltage SOI multi-finger gg-NMOS and NPN ESD protection devices |
| Auteur: |
Heer, M. Bychikhin, S. Mamanee, W. Pogany, D. Heid, A. Grombach, P. Klaussner, M. Soppa, W. Ramler, B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |