|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of transistor infant failure probability in InGaP/GaAs heterojunction bipolar technology |
| Auteur: |
Alt, K.W. Yeats, R.E. Hutchinson, C.P. Kuhn, D.K. Low, T.S. Iwamoto, M. Adamski, M.E. Shimon, R.L. Shirley, T.E. Bonse, M. Kellert, F.G. D’Avanzo, D.C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 8 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |