|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved low frequency noise characteristics of sub-micron MOSFETs with TaSiN/TiN gate on ALD HfO2 dielectric |
| Auteur: |
Devireddy, Siva Prasad Min, Bigang Çelik-Butler, Zeynep Tseng, Hsing-Huang Tobin, Philip J. Zlotnicka, Ania |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 8 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |