|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
A constitutive single crystal model for the silicon mechanical behavior: Applications to the stress induced by silicided lines and STI in MOS technologies |
| Auteur: |
Cacho, F. Orain, S. Cailletaud, G. Jaouen, H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 2-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 46 gevonden artikelen
| volgende >> |