|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
Efficient damage sensitivity analysis of advanced Cu/low-k bond pad structures by means of the area release energy criterion |
| Auteur: |
van der Sluis, O. Engelen, R.A.B. van Silfhout, R.B.R. van Driel, W.D. van Gils, M.A.J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 12 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |