Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Comparative analysis of RF LDMOS capacitance reliability under accelerated ageing tests
 
 
Titel: Comparative analysis of RF LDMOS capacitance reliability under accelerated ageing tests
Auteur: Belaïd, M.A.
Ketata, K.
Gares, M.
Mourgues, K.
Masmoudi, M.
Marcon, J.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 47 (2007) nr. 1 pagina's 6 p.
Jaar: 2007
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland