Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Failure analysis and solutions to overcome latchup failure event of a power controller IC in bulk CMOS technology
 
 
Titel: Failure analysis and solutions to overcome latchup failure event of a power controller IC in bulk CMOS technology
Auteur: Chen, Shih-Hung
Ker, Ming-Dou
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 46 (2006) nr. 7 pagina's 8 p.
Jaar: 2006
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland