|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
Advanced electrical and stability characterization of untrimmed and variously trimmed thick-film and LTCC resistors |
| Auteur: |
Dziedzic, Andrzej Kolek, Andrzej Ehrhardt, Waleed Thust, Heiko |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 2-4 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 47 gevonden artikelen
| volgende >> |