|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot-electron effects on AlGaAs/InGaAs/GaAs PHEMTs under accelerated DC stresses |
| Auteur: |
Huang, Hou-Kuei Wang, Chou-Sern Houng, Mau-Phon Wang, Yeong-Her |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |