|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Carrier separation analysis for clarifying carrier conduction and degradation mechanisms in high-k stack gate dielectrics |
| Auteur: |
Mizubayashi, Wataru Yasuda, Naoki Okada, Kenji Ota, Hiroyuki Hisamatsu, Hirokazu Iwamoto, Kunihiko Tominaga, Koji Yamamoto, Katsuhiko Horikawa, Tsuyoshi Nabatame, Toshihide Satake, Hideki Toriumi, Akira |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 7-8 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |