|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
An analytical threshold voltage model of NMOSFETs with hot-carrier induced interface charge effect |
| Auteur: |
Ho, C.S. Huang, Kuo-Yin Tang, Ming Liou, Juin J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 7-8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |