|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of crystalline MOCVD SrTiO3 films on SiO2/Si(100) |
| Auteur: |
Sibai, A. Lhostis, S. Rozier, Y. Salicio, O. Amtablian, S. Dubois, C. Legrand, J. Sénateur, J.P. Audier, M. Hubert-Pfalzgraff, L. Dubourdieu, C. Ducroquet, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 5-6 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |