|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Breakdown spots of ultra-thin (EOT<1.5nm) HfO2/SiO2 stacks observed with enhanced—CAFM |
| Auteur: |
Blasco, X. Nafrı́a, M. Aymerich, X. Pétry, J. Vandervorst, W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 5-6 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |