|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Admittance spectroscopy of traps at the interfaces of (100)Si with Al2O3, ZrO2, and HfO2 |
| Auteur: |
Truong, L. Fedorenko, Y.G. Afanaśev, V.V. Stesmans, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 5-6 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |