|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of hot-carrier degradation in a SOI LDMOS transistor with a steep retrograde drift doping profile |
| Auteur: |
Cortés, I. Roig, J. Flores, D. Urresti, J. Hidalgo, S. Rebollo, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |