|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Test circuits for fast and reliable assessment of CDM robustness of I/O stages |
| Auteur: |
Stadler, W. Esmark, K. Reynders, K. Zubeidat, M. Graf, M. Wilkening, W. Willemen, J. Qu, N. Mettler, S. Etherton, M. Nuernbergk, D. Wolf, H. Gieser, H. Soppa, W. De Heyn, V. Natarajan, M. Groeseneken, G. Morena, E. Stella, R. Andreini, A. Litzenberger, M. Pogany, D. Gornik, E. Foss, C. Konrad, A. Frank, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |