|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Multi-vibrational hydrogen release: Physical origin of T bd,Q bd power-law voltage dependence of oxide breakdown in ultra-thin gate oxides |
| Auteur: |
Ribes, G. Bruyère, S. Denais, M. Monsieur, F. Huard, V. Roy, D. Ghibaudo, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 12 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |