|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of AlGaN/GaN HEMTs under elevated temperature lifetesting |
| Auteur: |
Chou, Y.C Leung, D Smorchkova, I Wojtowicz, M Grundbacher, R Callejo, L Kan, Q Lai, R Liu, P.H Eng, D Oki, A |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 7 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |