|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Low frequency noise characterization in 0.13 μm p-MOSFETs. Impact of scaled-down 0.25, 0.18 and 0.13 μm technologies on 1/f noise |
| Auteur: |
Marin, M. Akue Allogo, Y. de Murcia, M. Llinares, P. Vildeuil, J.C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 7 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |