Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Interfacial properties and reliability of SiO2 grown on 6H-SiC in dry O2 plus trichloroethylene
 
 
Titel: Interfacial properties and reliability of SiO2 grown on 6H-SiC in dry O2 plus trichloroethylene
Auteur: Lai, P.T.
Xu, J.P.
Wu, H.P.
Chan, C.L.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 44 (2004) nr. 4 pagina's 4 p.
Jaar: 2004
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland