|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits. Nikola Nikolici, Bashir M. Al-Hashimi. Kluwer Academic Publishers, Boston, 2003. Hardcover, pp. 178, plus XI, ISBN 1-4020-7235-X, €107 |
| Auteur: |
Stojcev, Mile |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 3 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |