|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability testing of flexible printed circuit-based RF MEMS capacitive switches |
| Auteur: |
Lee, Simone Ramadoss, Ramesh Buck, Michael Bright, V.M. Gupta, K.C. Lee, Y.C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 44 (2004) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |