|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
Oxide conductivity increase during the progressive-breakdown of SiO2 gate oxides observed with C-AFM |
| Auteur: |
Porti, M. Nafrı́a, M. Aymerich, X. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |