|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs |
| Auteur: |
Djoric-Veljkovic, S. Manic, I. Davidovic, V. Golubovic, S. Stojadinovic, N. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |