|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Carrier injection efficiency for the reliability study of 3.5–1.2 nm thick gate-oxide CMOS technologies |
| Auteur: |
Bravaix, A. Trapes, C. Goguenheim, D. Revil, N. Vincent, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |