|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Pre-breakdown noise in electrically stressed thin SiO2 layers of MOS devices observed with C-AFM |
| Auteur: |
Porti, M. Meli, S. Nafrı́a, M. Aymerich, X. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 8 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |