|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Isothermal aging characteristics of Sn–Pb micro solder bumps |
| Auteur: |
Kim, K.S. Yu, C.H. Kim, N.H. Kim, N.K. Chang, H.J. Chang, E.G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 5 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |