|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Semiconductor Memories: Technologies, Testing and Reliability; Ashok K. Sharma. IEEE Press and Wiley Interscience, New York, 1997. Hardcover, pp. 462, plus XII, ISBN 0-7803-1000-4 |
| Auteur: |
Stojcev, Mile |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 3 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |