|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
A designer’s guide to built-in self-test; Charles E. Stround. Kluwer Academic Publishers, Boston, 2002. Hardcover, pp. 319, plus XVI, $ 125, ISBN 1-4020-7050-0 |
| Auteur: |
Stojcev, Mile |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 3 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 27 gevonden artikelen
| volgende >> |