Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 88 van 110 gevonden artikelen
 
 
  Reliability of power transistors against application driven temperature swings
 
 
Titel: Reliability of power transistors against application driven temperature swings
Auteur: Gopalan, Sudha
Krabbenborg, Benno
Egbers, Jan-Hein
van Velzen, Bart
Zingg, Rene
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 6 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 88 van 110 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland