Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 110 gevonden artikelen
 
 
  Analysis of the effect of the gate oxide breakdown on SRAM stability
 
 
Titel: Analysis of the effect of the gate oxide breakdown on SRAM stability
Auteur: Rodrı́guez, R.
Stathis, J.H.
Linder, B.P.
Kowalczyk, S.
Chuang, C.T.
Joshi, R.V.
Northrop, G.
Bernstein, K.
Bhavnagarwala, A.J.
Lombardo, S.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 4 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 110 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland