Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 50 van 110 gevonden artikelen
 
 
  High-resolution SILC measurements of thin SiO2 at ultra low voltages
 
 
Titel: High-resolution SILC measurements of thin SiO2 at ultra low voltages
Auteur: Aresu, S.
De Ceuninck, W.
Dreesen, R.
Croes, K.
Andries, E.
Manca, J.
De Schepper, L.
Degraeve, R.
Kaczer, B.
D’Olieslaeger, M.
D’Haen, J.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 5 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 50 van 110 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland