|
Electrical field mapping in InGaP HEMTs and GaAs terahertz emitters using backside infrared OBIC technique. |
|
|
|
Titel: |
Electrical field mapping in InGaP HEMTs and GaAs terahertz emitters using backside infrared OBIC technique. |
Auteur: |
Pogany, D. Kuzmik, J. Darmo, J. Litzenberger, M. Bychikhin, S. Unterrainer, K. Mozolova, Z. Hascik, S. Lalinsky, T. Gornik, E. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
Jaar: |
2002 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|