|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
Conduction and Breakdown Behaviour of Atomic Force Microscopy Grown SiO2 Gate Oxide on MOS Structures |
| Auteur: |
Blasco, X. Nafrı́a, M. Aymerich, X. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |