Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 15 gevonden artikelen
 
 
  Testing process performance based on the yield: an application to the liquid-crystal display module
 
 
Titel: Testing process performance based on the yield: an application to the liquid-crystal display module
Auteur: Chen, Jann-Pygn
Pearn, W.L.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 42 (2002) nr. 8 pagina's 7 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 15 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland