Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Characterization method of thermomechanical parameters for microelectronic materials
 
 
Titel: Characterization method of thermomechanical parameters for microelectronic materials
Auteur: Perat, O.
Dorkel, J.M.
Scheid, E.
Temple Boyer, P.
Chung, Y.S.
Peyre-Lavigne, A.
Zecri, M.
Tounsi, P.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 42 (2002) nr. 7 pagina's 6 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland