|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
The correlation between the low-frequency electrical noise of high-power quantum well lasers and devices surface non-radiative current |
| Auteur: |
Guijun, Hu Jiawei, Shi Shumei, Zhang Fenggang, Zhang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 42 (2002) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |