Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 78 gevonden artikelen
 
 
  Analysis of high-power devices using proton beam induced charge microscopy
 
 
Titel: Analysis of high-power devices using proton beam induced charge microscopy
Auteur: Zmeck, M.
Phang, J.
Bettiol, A.
Osipowicz, T.
Watt, F.
Balk, L.
Niedernostheide, F.-J.
Schulze, H.-J.
Falck, E.
Barthelmess, R.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 41 (2001) nr. 9-10 pagina's 6 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 78 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland