|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization and quantum modeling of MOS capacitors with ultra-thin oxides (1.4–3 nm) |
| Auteur: |
Clerc, R. Spinelli, A.S. Ghibaudo, G. Leroux, C. Pananakakis, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |