|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 87 gevonden artikelen
| Titel: |
A method to minimize test time for accelerated ageing of pHEMT's by analysis of the electronic fingerprint of the initial stage of degradation |
| Auteur: |
Petersen, R. De Ceuninck, W. De Schepper, L. Muraro, J.-L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 8-10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 87 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |