|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Validation of bulk-charge effect parameter extraction in MOSFETs |
| Auteur: |
Garcı́a Sánchez, F.J Ortiz-Conde, A Salcedo, J.A Muci, J Estrada, M Cerdeira, A Liou, J.J Yue, Y |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| << vorige |