|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Capacitance–Voltage (C–V) characterization of 20 Å thick gate oxide: parameter extraction and modeling |
| Auteur: |
Clerc, R Devoivre, T Ghibaudo, G Caillat, C Guégan, G Reimbold, G Pananakakis, G |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 4-5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |