Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 16 gevonden artikelen
 
 
  Characterization of interfacial thermal resistance by acoustic micrography imaging
 
 
Titel: Characterization of interfacial thermal resistance by acoustic micrography imaging
Auteur: Haque, Shatil
Lu, Guo-Quan
Goings, J.
Sigmund, J.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 40 (2000) nr. 3 pagina's 12 p.
Jaar: 2000
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland