|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of oxide traps in 0.15 μm2 MOSFETs using random telegraph signals |
| Auteur: |
Amarasinghe, Nuditha Vibhavie Çelik-Butler, Zeynep Vasina, Petr |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 11 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |