|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Accelerated dielectric breakdown and wear out standard testing methods and structures for reliability evaluation of thin oxides |
| Auteur: |
Ghibaudo, G Pananakakis, G Kies, R Vincent, E Papadas, C |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 39 (1999) nr. 5 pagina's 17 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| volgende >> |