|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Dislocations structure investigation in neutron irradiated silicon detectors using AFM and microhardness measurements |
| Auteur: |
Golan, G Rabinovich, E Inberg, A Axelevitch, A Oksman, M Rosenwaks, Y Kozlovsky, A Rancoita, P.G Rattaggi, M Seidman, A Croitoru, N |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 39 (1999) nr. 10 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |